Imina Technologies NANO-Elektron Mikroskoplar için Robotik Çözümler
SEM ve FIB için entegre nanoprobing çözümleri. Prob uçlarını yarı iletken çiplerle temas ettirin, entegre bileşenlerin elektriksel özelliklerini ölçün, kusurları yerelleştirin ve yapıları izole edin.
Daha fazla bilgi için tıklayınız.
